In situ measurements of thickness changes and mechanical stress upon gasochromic switching of thin MoOx films

Melville, NY / IOP Publ. (2004) [Fachzeitschriftenartikel]

Journal of applied physics
Band: 95
Ausgabe: 12
Seite(n): 7632-7636

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Okumu, J.
Koerfer, F.
Salinga, Christian Lothar
Wuttig, Matthias

Identifikationsnummern