Grazing incidence diffuse X-ray scattering investigation of the properties of irradiation-induced point defects in silicon

Ridge, NY / APS (2001) [Fachzeitschriftenartikel]

Physical review / B, Condensed matter and materials physics
Band: 64
Ausgabe: 23
Seite(n): 235207

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Partyka, P. J.
Zhong, Y.
Nordlund, K.
Averback, R. S.
Robinson, I. M.

Weitere Autorinnen und Autoren

Ehrhart, Peter

Identifikationsnummern