Characterization of porous silicon layers by reflectance spectroscopy

(1993) [Beitrag zu einem Tagungsband]

Proc. Mat. Res. Soc. Sympos. 238 (1993)
Seite(n): 215

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Theiss, W.
Grosse, P.
Münder, H.
Lüth, H.
Herino, R.

Weitere Autorinnen und Autoren

Ligeon, M.

Identifikationsnummern

  • REPORT NUMBER: RWTH-CONV-192784